YMS
良率管理系统
产品概览
工厂管理的工程数据分析系统
帮助用户用更高、更全面的视角、更专业的模型、准确的解决数据分析中的问题
基于半导体工厂的生产、设备、厂务、质量等运营过程数据
运用统计方法和模型进行整合
多年积累的客户实施经验
增加新的系统特性和增强模块
智能工具与丰富应用场景
功能特点
模块一
数据管理及BI模块
模块二
标准统计模型和图标模板
模块三
基于业务层的数据整合管理和分析
模块四
定制化分析模型模板，与FDC，ADC系统整合等
优势效果
面板行业定制化全厂良率趋势模板
半导体CP良率与Defect Map Overlay管理
半导体CP良率与Defect Map Overlay管理
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